産品名稱:

背鍍檢測(cè)設備(bèi)(背膜背檢+背膜正檢+ PL)
背鍍檢測(cè)設備(bèi)(背膜背檢+背膜正檢+ PL)
背鍍檢測(cè)設備(bèi)(背膜背檢+背膜正檢+ PL)

産品簡介:

昂視背鍍檢測設備(bèi)适用於(yú)投産邊長尺寸 182mm~230mm,厚度110-220μm,翹曲度<3度的電池片,電池片背鍍後正膜、背膜表面缺陷及内部缺陷檢測。


暫無數據
  • 産品特點
  • 産品參數
  • 外形尺寸
  • 文件/手冊/說明書

基本功能:電池片表面缺陷檢測主要使用彩色面陣或線掃相機配合特定光源對電池片表面膜色及缺陷進行檢測;電池片内部缺陷檢測主要使用紅外線掃相機配合特定激光源對電池片内部隐裂缺陷進行檢測

可檢缺陷:色斑、發紅、髒污、過刻、亮斑、舟印、劃傷、崩邊、缺角氣流印、發白、藥殘、隐裂、缺口、V形缺口、缺角、崩邊,霧狀發黑、同心圓、皮帶印、髒污、舟印等。


漏判率:漏判=漏掉的降級片/跑片數≤0.1%;跑片數爲正常生産情況下經過AOI設備的電池片

誤判率:誤判=錯判爲降級片的非降級片/跑片數≤0.2%;跑片數爲正常生産情況下經過AOI設備的電池片

背膜背檢設備尺寸:300×336×579.5mm

背膜正檢設備尺寸:363×321×917mm

PL檢測機尺寸:410×313×752mm